电镀金刚石线

　　近来，中科院物理所研讨员杨洪新、徐力方、方忠、顾长志和美国伦斯勒理工学院(Rensselaer Polytechnic Institute) 教授张绳百协作，用榜首原理深化地研讨了清洁的金刚石(001)外表的台阶结构，经过核算台阶构成能，发现台阶结构比2×1再构的平面更安稳。相关成果已于2008年1月14日宣布在最新一期的《物理谈论快报》（Phys. Rev. Lett.）上。

　　半导体外表一个最普遍存在的现象是产生晶格再构，它导致了外表具有各种不同于体内的物理性质。正是因为外表再构在根底和应用研讨方面具有的重要性，几十年来人们做了很多的作业。能否提出一个简略的理论，从而在研讨一些典型的半导体外表再构时给出必定的规矩，这是人们长时间寻求的方针。

　　基于此，研讨人员对碳元素提出了一个用来探究其再构的计键规矩，而且应用于金刚石(001)台阶面的再构，与核算成果无一例外地共同。这项新的作业发现了金刚石(001)外表台阶化的实质，核算成果和现在国外其他小组STM观测的试验成果完全共同，指出了金刚石外表的台阶化与硅外表台阶化的底子不同，深化认识了金刚石外表台阶的性质，为使用金刚石外表制造各种高可靠性器材奠定了根底。这项研讨作业得到中国科学院、国家自然科学基金和科技部项目的支撑。